『軟件實操教程』溫澤WM | Quartis軟件特征測量——“圓”的圖文詳解
WM | Quartis是溫澤功能豐富、可靠、便捷的測量軟件。溫澤的WM | Quartis為所有工業應用提供了新一代的創新測量軟件，它具有清晰、靈活和以結果為導向的用戶界面。系統可以更快、更容易地生成測量報告。本教學方案將聚焦于圓的測量這一基礎功能，從軟件界面操作到測量參數設置，系統化指導用戶完成完整的測量流程，幫助用戶充分發揮WM | Quartis在提升檢測效率和結果可靠性方面的優勢。
步驟一，幾何參數設置：
『1』首先打開Quartis軟件，選擇測量 → 圓
我們以圓這個三坐標檢測中最常見的元素為例來說明Quartis中的特征測量。
1：在模型上拾取理論值，也可以直接手輸理論值；
2：無模型的情況下，手動預采點得到理論值；
3：內外圓切換按鈕；
4：將當前紅寶石球的位置設置成圓心；
5：確認當前標稱值。
『2』關于參照
首先要理解圓特征在軟件中屬于一個二維特征，它是位于某一個特定平面內的，這個特定平面就是我們所說的參照，軟件會將實際測點按照參照的方向（ijk）將空間中的實際測量點投影在參考平面內，然后再根據算法（高斯，切比雪夫，最大內切，最小外接）計算出圓心和圓的直徑。
『3』Quartis軟件提供了6種參考供客戶選擇：
1：標稱值，將被測特征的理論方向（ijk）作為參考方向；
2：參照元素，軟件會根據將參照元素的方向（ijk）來作為參考方向
3：以當前坐標系的坐標平面XY面作為參考平面/方向；
4：以當前坐標系的坐標平面YZ面作為參考平面/方向；
5：以當前坐標系的坐標平面ZX面作為參考平面/方向；
6：在測量被測圓之前，軟件會在圓附近測量一個實際平面，然后將測得平面得方向作為參考方向。如圖，測量CIR_3之前會預先在圓上表面測量一個平面。
『4』相對參考
當被測特征的變形量比較大時，用一個已經測量的特征來引導CMM在實際位置進行測量，見下圖。
相對參考的三種設置：
1：無相對參考，元素直接在當前坐標系下按照理論位置測量。
2：有參考元素，按照參考元素的偏移量，來調整被測元素的位置。
3：按照輸入量直接調整被測元素的位置。
『5』材料厚度補償
可選擇測點補償或者基準補償。
『6』算法選擇
默認最小二乘（高斯）。切比雪夫又稱最小區域法，形狀誤差默認用此算法。
『7』雜散點
通過拉依達法則去除粗大誤差，用于掃描測量，點數比較多的情況
∣xi?−μ∣>3σ
xi ：某一個具體測量點偏差
μ：均值，所有測點偏差平均值
σ：標準差
因子：超過幾倍的標準差
迭代：迭代次數，去除一次粗大誤差后，重新計算樣本的均值和標準差，再過濾一次粗大誤差。
『8』中間值法
利用窗口寬度來去除雜散點的一種方式，在掃描過程中，有一個測點的偏差發生了突變。
『9』過濾
有三種方式可供選擇，用于掃描測量。
無：不過濾。
自適應：低通過濾器，就是讓低頻通過，一般得到的是輪廓度。過濾特性會根據點密度自動設置。
高斯：兩種方式CWL和W/C.
CWL：按照步長進行過濾，用于單曲線、直線等特征。
W/C：按照每圓周多少個波動來進行過濾，用于圓，圓柱等特征。
注意，軟件中默認每個波動至少需要7個測點，如果CWL是0.8，你掃描一條線的長度是8mm，那么這條曲線總共至少需要70個測點，如果掃描一個圓，設置W/C為50，那么至少需要350個測點。
否則，軟件會彈出如下提示：
『10』過濾參數如何選擇？
不同波長下的過濾效果如圖所示，簡單理解，你如果想獲得粗糙度（微觀），那波長就需要很小（高通過濾~高頻通過），如果是輪廓度（宏觀）波長就大（低通~低頻通過）。
步驟二、分布設置
這個界面較為簡單，主要是對測點、深度、角度、安全平面設置。
步驟三、編輯設置
對已生成的測點和中間點進行編輯操作，刪除、增加或者修改。
步驟四、特性設置
針對該元素的公差設置，測量結束即評價。
點擊小箭頭，進入公差設置。
動態的：不勾選此項，特征始終在它當時評價的系統中評價，勾選此項，特征會根據坐標系的變化而變化。例如一個圓，在1號坐標系下面測量，理論值（10，10，0）實際坐標（10.1，10，0）那么在1號坐標系下，它X軸偏差為0.1，如果我們用該圓的圓心建立了2號坐標系，那么在2號坐標系下它的實際坐標和理論坐標一致，都是（0，0，0），X軸的偏差就是0，不勾選動態的，圓在1號坐標系下評價過，那么它始終為0.1.勾選了動態的，那么它在1號坐標系下就是0.1，載入2號坐標系，X軸偏差就是0.
步驟五、重復設置
手動：用戶可直接在模型上拾取多個不同的圓，軟件會根據設置的深度、點數、安全平面等參數來生成一組測量特征，方便快捷。
網格：將被測特征按照XYZ軸向陣列
圓：以指定的圓心和角度陣列特征。
完成上述設置后，點擊開始按鈕，機器就開始自動測量